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本文標(biāo)題："利用晶片堆疊來(lái)達(dá)到小體積大容量-晶片檢測(cè)顯微鏡"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2013-4-25 0:19:50 本站主頁(yè)地址：http://joycesworld.cn
利用晶片堆疊來(lái)達(dá)到小體積大容量-晶片檢測(cè)顯微鏡
3D IC是利用晶片堆疊來(lái)達(dá)到小體積大容量，晶片聯(lián)結(jié)距離縮短，使通訊速率更高。由于其可同時(shí)滿足電子產(chǎn)品在小型化、
高效能與低成本的多項(xiàng)需求，而成為半導(dǎo)體業(yè)界所爭(zhēng)相關(guān)注的新寵兒。但晶片堆疊產(chǎn)生了許多新的檢測(cè)需求，
這些需求異于過(guò)去的檢測(cè)設(shè)備，即使過(guò)去稱霸世界的半導(dǎo)體檢測(cè)設(shè)備大廠也無(wú)法充份滿足其需求。
我們看到許多新的供應(yīng)商，提出各式各樣的新設(shè)備技術(shù)，國(guó)外設(shè)備商都看到這個(gè)新機(jī)會(huì)，只可惜并沒(méi)有國(guó)內(nèi)檢測(cè)設(shè)備商
積極投入。量測(cè)中心為掌握這一次難得的切入機(jī)會(huì)，在資源缺乏的狀況，幾年來(lái)投入3D IC檢測(cè)設(shè)備開(kāi)發(fā)，
建立了一些專利技術(shù)及雛型檢測(cè)機(jī)臺(tái)。但很可惜，國(guó)外廠商合作意愿反而比國(guó)內(nèi)廠商高。藉重本文，
我們把過(guò)去發(fā)展的3D IC檢測(cè)技術(shù)，拋磚引玉，希望有機(jī)會(huì)促成國(guó)內(nèi)3D IC半導(dǎo)體廠、檢測(cè)設(shè)備廠、研究單位、
甚至政府單位攜手，由檢測(cè)設(shè)備切入，建立信心，再逐步擴(kuò)展至其它設(shè)備的發(fā)展。并藉此有機(jī)會(huì)，
把過(guò)去國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)鏈中，半導(dǎo)體設(shè)備段落連接起來(lái)，也確保我們的半導(dǎo)體設(shè)備未來(lái)不會(huì)受制于人
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