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由較密介質(zhì)進(jìn)入較疏介質(zhì)時(shí),會(huì)發(fā)生光反射
ATR光譜法 ATR spectrometry
對(duì)于溶解度極小的固體、薄層、纖維、填充劑、黏著劑與粉末等很難處理之樣品,
內(nèi)反射光譜法是可以被用來(lái)觀測(cè)樣品之IR光譜的一項(xiàng)技術(shù)。
原理
當(dāng)輻射光束由較密之介質(zhì)進(jìn)入較疏之介質(zhì)時(shí),會(huì)發(fā)生反射現(xiàn)象。
當(dāng)入射角增大至某一個(gè)臨界角度之后,就會(huì)發(fā)生完全反射現(xiàn)象。
事實(shí)上,無(wú)論在理論上或者實(shí)驗(yàn)過(guò)程中都發(fā)生有光束穿透進(jìn)入較疏之介質(zhì)中,
行進(jìn)一小段距離之后再發(fā)生反射過(guò)程的一種現(xiàn)象。
穿透之深度可以由若干分之一個(gè)波長(zhǎng)值變化到數(shù)個(gè)波長(zhǎng)值。
實(shí)際深度與入射輻射之波長(zhǎng)、兩種介質(zhì)之折射系數(shù)值,以及入射輻射線相對(duì)界面的角度等各項(xiàng)都有關(guān)。
穿透之輻射線稱為瞬息波。
較疏之介質(zhì)會(huì)吸收瞬息波,在吸收譜帶之波長(zhǎng)處,會(huì)發(fā)生光束被調(diào)減現(xiàn)象,
而稱之為總反射值調(diào)減現(xiàn)象attenuated total reflectance(ATR) 。
除了一些差異之處以外,所得到的ATR光譜類似于傳統(tǒng)IR光譜。
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