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本文標(biāo)題："精細(xì)電路板檢測(cè)光學(xué)顯微鏡-測(cè)量光學(xué)儀器"
新聞來源：未知 發(fā)布時(shí)間：2014-3-2 21:25:54 本站主頁地址：http://joycesworld.cn
精細(xì)電路板檢測(cè)光學(xué)顯微鏡-測(cè)量光學(xué)儀器
隨著印制電路板密度的增加，在制作期間，傳統(tǒng)的目視檢測(cè)的方
法對(duì)雙面板或多基板的有效性比較低。
盡管通過目測(cè)或電子連續(xù)性測(cè)試能很容易地檢測(cè)到單面板或雙面
板的斷路和短路，但是對(duì)于多層印制電路板內(nèi)層的故障，它幾乎是不
可能檢測(cè)到的。
因此，一個(gè)更有效的多基板的檢測(cè)方法是通過X 射線進(jìn)行掃描，
通過這種方法可以對(duì)板子的內(nèi)層結(jié)構(gòu)進(jìn)行深人的觀測(cè)，很容易檢測(cè)出
故障。
然而，光學(xué)檢測(cè)不能檢測(cè)出漏電、污染問題，不能測(cè)試絕緣電阻。
因此，高標(biāo)準(zhǔn)的電氣檢測(cè)和光學(xué)掃描將產(chǎn)生零缺陷的印制電路板產(chǎn)品。
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