---
---
---
(點擊查看產品報價)
線截法可以用來測顯斷口的面積、體積-金相分析
線截法可以用來測顯斷口的面積、體積和斷裂形貌特征平均尺寸
等,這個方法是將電子斷口圖象劃出不同取向(例如常用兩條相互垂
直)的兩條直線,測量出直線的總長度和這些直線所通過的斷口形貌
特征的總個數(shù)之比,就是這種特征的定且測定數(shù)值
斷口最突的特點是起伏不平,有明顯的三維空間特征,在斷口分
析中不僅要注意斷口表面的分析,而且還要研究斷口的立體形貌,例
如斷口浮凸高度等。
斷口浮凸測星技術,通常采用標準小球噴涂在斷口表面上,并使
標準小球均勻分布,再借助于復型技術,可求出投影角,即投影距離
與小球直徑的關系式,這樣可以直接測量出斷口浮凸的高度。
在斷口分析中,通常使用的方法有宏觀斷口分析、光學
顯微鏡斷
口
分析和電鏡斷口分析等三種方法。
這些分析方法已經(jīng)廣泛地應用到
生產實踐中,特別是對于分析研究冶
金質量、機械產品斷裂失效等方
面的應用更為突出。
在斷口一般分析技術方面,已取得豐富的經(jīng)驗,
國內外均有大量的報導。
所有資料用于交流學習之用,如有版權問題請聯(lián)系,禁止復制,轉載注明地址
上海光學儀器一廠-專業(yè)顯微鏡制造商 提供最合理的
顯微鏡價格