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本文標(biāo)題："巖體切面成很小角度解理構(gòu)造截面分析顯微鏡"
新聞來源：未知 發(fā)布時間：2015-12-5 13:12:26 本站主頁地址：http://joycesworld.cn
巖體切面成很小角度解理構(gòu)造截面分析顯微鏡
由于應(yīng)力作用對于巖體的影響，也由于研磨薄片過程的結(jié)果，礦
物常多少發(fā)生斷裂或破碎，在十分均質(zhì)的物質(zhì)中這樣引起破裂是不
規(guī)則的，但是假如在晶體中有最小粘合力的方向，破裂將要遵循著
這些方向并在薄片中將現(xiàn)出細(xì)致的平行線條代表著切面中的解理面
的痕跡，裂痕的規(guī)則性和連續(xù)性可以說明解理構(gòu)造完全的程度，但
必須記住解理與切面成很小角度時，一般在薄片中是看不出來的。
在一種礦物像普通輝石或角閃石的情況下，具有二個方向的完全
解理，二個面彼此相交的角度，自然是這個礦物的特性，或至少是
一礦物輝石類或角閃石類的特性，如果薄片是垂直切于二個解理的
，則所見的痕蹤即是真正角度，任何其他方向的切片，其解理痕蹤
的角度是不同的，但在薄片幾乎與解理相垂直時，其差是不會太大
的，且常能夠?qū)⑺鎰e出來，譬如輝石類解理間的角度是87°而角
閃石類是1/2，在薄片平等于二個解理的交叉點(diǎn)時，二個解理就只
看到一個了，礦物如普通輝石或角閃石的薄片呈現(xiàn)一組解理時，可
以假定它是幾乎與解理交叉點(diǎn)平行的切面的。
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