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本文標(biāo)題："導(dǎo)電覆層的厚度-渦流法覆層測(cè)厚儀技術(shù)應(yīng)用"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2016-5-8 1:17:48 本站主頁(yè)地址：http://joycesworld.cn
導(dǎo)電覆層的厚度-渦流法覆層測(cè)厚儀技術(shù)應(yīng)用
渦流法覆層測(cè)厚儀
渦流法覆層測(cè)厚儀的最大特點(diǎn)是在儀器制造中要重點(diǎn)地進(jìn)行
干擾因素的抑制或消除。根據(jù)測(cè)量對(duì)象、用途以及技術(shù)要求不
同，儀器電路變化很大。
通常渦流法覆層測(cè)厚儀包括激勵(lì)電源、測(cè)頭、測(cè)量電路、信
號(hào)處理電路以及顯示電路等部分。
激勵(lì)電源主要是單頻正弦波振蕩器、多頻正弦振蕩器、脈沖
發(fā)生器。
單頻激勵(lì)的覆層測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)頭的激勵(lì)方式，通常有以下
幾種電路。
微型計(jì)算機(jī)渦流法覆層測(cè)厚儀的原理圖。這
種測(cè)厚儀包括測(cè)量電路和微計(jì)算機(jī)部分。它通過(guò)微機(jī)程序?qū)υ搩x
器操作采取人機(jī)對(duì)話方式進(jìn)行測(cè)量，所測(cè)得的數(shù)據(jù)通過(guò)微機(jī)運(yùn)算
和處理，可以直接顯示，也可以進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)處理，全部結(jié)果還
可以打印，作為檢測(cè)報(bào)告保存起來(lái)。
渦流法覆層測(cè)厚儀由于測(cè)量對(duì)象的不同，所要抑制的干擾因
素也不一樣，因而對(duì)電路調(diào)試和要求則不相同，有各自的特點(diǎn)，
下面分述不同測(cè)量對(duì)象的儀器及其應(yīng)用。
渦流法測(cè)量導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層的厚度可從幾微米到幾十
毫米，甚至更厚。通常利用渦流法測(cè)量覆層厚度，主要是測(cè)量鋁．
及其合金上的陽(yáng)極氧化膜、鋁和銅等及其合金上的涂覆層的厚
度。較通用的儀器的測(cè)厚范圍在1mm以內(nèi)。
測(cè)量導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度實(shí)際是測(cè)量測(cè)頭和被測(cè)件基．
體金屬表面問(wèn)的距離。在這種覆層厚度測(cè)量中，如果測(cè)頭每次接
觸被測(cè)表面其狀態(tài)不能保持一致性，則會(huì)導(dǎo)致在距離上的微小變’
化，反映在儀器顯示的靈敏度和覆層厚度的靈敏度是相同的，并
且無(wú)法抑制，因而對(duì)測(cè)頭測(cè)量的技術(shù)要求很高，通常都采用壓測(cè)
頭以保持測(cè)量狀態(tài)的一致性。
基體電導(dǎo)率的變化是造成非導(dǎo)電覆層厚度測(cè)量誤差的一個(gè)重
要原因，為此渦流法覆層測(cè)厚儀具有抑制電導(dǎo)率變化影響的特
點(diǎn)。
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