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本文標(biāo)題："機(jī)械零部件如軸承、潤(rùn)滑器件功率MOS器件檢測(cè)顯微鏡"
新聞來(lái)源：未知 發(fā)布時(shí)間：2016-6-24 22:23:51 本站主頁(yè)地址：http://joycesworld.cn
機(jī)械零部件如軸承、潤(rùn)滑器件功率MOS器件檢測(cè)顯微鏡
對(duì)機(jī)械零部件(如軸承、潤(rùn)滑系統(tǒng))、半導(dǎo)體器件(如功率MOS器件)
、機(jī)電部件(如感應(yīng)電動(dòng)機(jī))、光電器件(如太陽(yáng)電池、激光器、LED
)、電子器件(如電容、蓄電池)等的退化失效過(guò)程，開(kāi)展退化過(guò)程
建模、可靠性評(píng)估、剩余壽命預(yù)測(cè)、可靠性試驗(yàn)設(shè)計(jì)特別是加速退
化試驗(yàn)方案設(shè)計(jì)的研究。
基于退化的可靠性技術(shù)的基礎(chǔ)是產(chǎn)品退化過(guò)程建模與分析，可
以對(duì)影響產(chǎn)品失效的諸多因素，包括設(shè)計(jì)缺陷、制造及工藝過(guò)程的
差異和缺陷、使用環(huán)境、運(yùn)行模式等的動(dòng)態(tài)性和不確定性等進(jìn)行比
較合理的描述。但是，并不能認(rèn)為基于退化的可靠性技術(shù)將取代失
效物理方法和傳統(tǒng)的基于失效的可靠性技術(shù)，因?yàn)樗鼈兌际乾F(xiàn)代可
靠性工程學(xué)科的重要的組成部分。具體的，可以認(rèn)為它們適合于解
決不同類型產(chǎn)品的可靠性問(wèn)題口川，并隨著產(chǎn)品研制過(guò)程、開(kāi)發(fā)技
術(shù)、采用的新材料新工藝等的發(fā)展而發(fā)展。當(dāng)產(chǎn)品沒(méi)有缺陷或缺陷
對(duì)退化速度或機(jī)理沒(méi)有影響，此時(shí)產(chǎn)品的失效現(xiàn)象和失效過(guò)程是確
定的，則可以采用失效物理方法。如果產(chǎn)品存在一定的缺陷，但是
缺陷影響較小，只對(duì)退化速度有影響，不影響退化機(jī)理，則盡可能
采用基于退化的可靠性技術(shù)，此時(shí)應(yīng)該將失效機(jī)理和概率統(tǒng)計(jì)相結(jié)
合，即采用物理一統(tǒng)計(jì)方法。如果產(chǎn)品中缺陷影響很大，既改變退
化速度又改變退化機(jī)理，則一般采用傳統(tǒng)的壽命試驗(yàn)和大樣本的概
率統(tǒng)計(jì)方法，必要時(shí)可采用信息融合技術(shù)來(lái)綜合各種信息，如相似
產(chǎn)品和專家經(jīng)驗(yàn)等，提高建模和分析的精度。
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